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三坐标知识| 接触式测头与光学式测头有何不同

发表时间: 2021-06-18 20:20:33

作者: 三坐标测量机

来源: www.serein.com.cn

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对于三坐标测量机来说,测头之间并无绝对优劣之分。不同测头的适用场景并不一样,而在其适用环境下该测头就能发挥更大作用。同样的,光学侧头和接触式测头也是如此。


使用光学式测头后得出的结果能与CAD模型做对比,获取零件整体/局部轮廓的偏差等等。但在一些特殊工件,比如一些微小软等不适宜进行接触测量工件,光学式测头要优于接触式测头。同时在测量效率方面,光学式测头也要由于接触式测头,更适合进行大批量高效测量。

 

接触式测头在测量特定位置的三维曲线时,比如在测量透平叶片时,可能会存在半径补偿余弦误差或实际测点位置出现偏差的情况。而非接触式测头能很好地回避这一问题。因为它是直接利用光点的反射信号来获取被测点的坐标,不存在半径补偿的环节,因此能够完全杜绝余弦误差产生的源头。同时,叶片也是较为轻薄的工件,用接触式测头测量可能会使工件变形而对测量结果产生影响,进而产生测量偏差等。


需要做三维测量时,单独的光学测头就难以进行测量任务。需要进行测量时,往往需要配合接触式测头一起,由接触式测头负责建立测量基准进行。光学测头虽然有一些接触式测头无法提供的优势,但在需要L型测针的场合或进行如径深比很小的孔测量时,接触式测头要更适用。


在实际测量中,我们要分析好自己的使用场景,选择正确的测头。除了测头之外,三坐标测量机的性能、售后服务等也很重要。思瑞三坐标测量机凭借出众的性价比,周到的售后维护获得越来越多用户的信赖与认可。

 



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